在线测量确保薄膜光伏模块的高效率

在制造薄膜太阳能电池板或铝箔（例如CIS / CIGS，CdTe）时，准确保持规定的厚度和成分极限非常重要，因为这会直接影响电池板的效率。只有使用精确，快速和可靠的在线测量系统，才能连续监控生产参数，从而确保涂层工艺的质量。

【遇到的问题】

典型的薄膜光伏（PV）系统由涂覆在玻璃或箔片等基材上的相当复杂的层堆叠组成。随着制造商努力开发低成本，可靠的CdTe / CIS / CIGS产品，他们面临的一些关键的问题是：
▶ 更高的模块效率；
▶ 吸收器层更薄，小于1µm；
▶ 大面积上一致的吸收膜化学计量和均匀性。

【解决方案】

在这里，成熟的无损测量技术（例如X射线荧光（XRF））有助于提高均匀性和化学计量，从而提高电池效率和产量。 FISCHERSCOPE®X-RAY 5400可对复杂的CIS / CIGS / CdTe系统中的层厚度和成分进行精确的测量，从而在生产过程中的各个阶段进行连续的在线质量控制。

图.1：FISCHERSCOPE X-RAY 5400的X射线头（左）和易于更换的保护膜的详细视图

图2：CIGS厚度读数和测量距离的变化–蓝色点带有距离补偿，红色点带有距离补偿。

由于X射线头通过冷却的标准接口安装到真空室系统，因此它们甚至可以在基板温度接近500°C的条件下用于生产机械中。
产品在生产过程中可能会发生移动和鼓起，这会导致样品和测量头之间的距离波动。为了防止伪造的影响，FISCHER的WinFTM®软件使用了已测量的XRF光谱中已包含的信息，无需任何运动部件即可实现可靠的距离补偿，从而避免了使用辅助距离传感器。

激活距离补偿功能后，可以在不显着影响测量读数的情况下将测量距离*多更改+/- 5 mm。
使用XRF技术可以准确，精确地监控薄膜太阳能电池的生产质量。 FISCHER特别设计的在线X射线测量头FISCHERSCOPE®X-RAY 5400还可以满足现场生产环境的所有坚固性要求。有关更多信息，请联系上海量博实业有限公式，021-50473900。

X-RAY 5000德国菲希尔合金分析/镀层测量仪

X-RAY 5000 系列仪器采用模块化设计，可轻松集成到生产线中。例如，当必须测量大尺寸底材（如锡板）上的镀层时，X-RAY 5000 堪称理想解决方案。根据底材和镀层材料的不同，客户可按需求选配X射线源、探测器以及基本滤片。