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平面度测量系统

CORNING TROPEL源于1953年,是提供平面度测量技术的行业领导,并已开发出测量大尺寸液晶显示器(LCD)光罩的技术。平面度测量系统能进行全表面平坦度测量,具有快速、可重复性以及精确性的特点,因而能满足新一代对平整度的要求。

FlatMaster MSP 40 /300 平面度仪

使用非接触式频率扫描干涉仪,可以在几秒内同时测量多个表面。

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美国Corning平面度测量系统FlatMaster 100

美国康宁Corning Tropel Flatmaster 100平面度仪,为精密部件的制造商提供了业界*先的平面度及表面形态测量。通过非接触式光学测量技术能在很短的时间内记录下整个表面的数据。

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Flatmaster 40美国康宁平面度测量系统

美国康宁Corning Tropel Flatmaster 40平面度仪也称为平面度测量仪、平整度仪、平坦度仪等,为精密部件的制造商提供了业界ling先的表面形态测量。通过非接触式光学测量技术记录下整个表面的数据。Flatmaster 40平面度仪能够快速和准确地对各种表面的平面度、线型和其他表面参数进行精密测量。

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Tropel FlatMaster MSP150 平面度测量系统

快速,准确的测量表面各项平面度及厚度参数 。

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Flatmaster 200美国康宁平面度仪

美国康宁Corning Tropel Flat Master 200平面度仪也称为平整度仪、平坦度仪,为精密部件的制造商提供了业界L先的表面形态测量。通过非接触式光学测量技术记录下整个表面的数据。Flat Master 200平面度仪能够快速和准确地对各种表面的平面度、线型和其他表面参数进行测量。

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Corning Tropel UltraFlat 200 掩模系统

Tropel UltraFlat 200掩模系统是专门为光掩模行业设计的。 对于日益严格的掩模平面度规格,它提供了*低的测量不确定度。 收缩装置的功能不仅需要更平坦的晶圆,还需要更平坦的掩模。

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Tropel UltraSort II美国Corning平面度测量仪

具有可定制测量组件的全自动晶圆平整度计量平台。

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Tropel UltraSortII半自动FlatMaster晶圆计量系统

先进的光学测量模块,用于晶圆平整度和厚度变化。

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Tropel FlatMaster MSP晶圆表面计量系统

测量半导体晶片的平坦度,厚度和厚度变化的能力对于晶片加工很重要。 传统的接触探针和传统的干涉测量系统太慢,或者在整个晶片表面积上没有必要的精度。

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