TomoScope HV compact

TomoScope HV compact

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[图像处理技术]

为了从通过X射线透射获得的2D X射线图像创建3D体数据，需要出色的图像处理技术。 通过利用Werth在CMM中使用相机传感器所积累的图像处理经验和知识，TomoScope可以以较少的噪声和模糊数据进行分析，因此可以进行高精度的测量。

[TomoScope的成就]

它已广泛应用于以汽车零件和医疗零件为中心的领域。 特别是，在需要小尺寸和高性能的产品的开发和批量生产方面，我们取得了许多成就。

[TomoScope系列]

TomoScope系列大致分为四个模型。 TomoScope-HV紧凑型是第二大型号，*大输出为300kV。

高分辨率--选项1 [分割扫描（*后一次断层扫描）] 通常，在使用X射线CT系统进行扫描时，必须将样品放置在X射线的锥束中，因此，样品越大，放大率越低。 但是，如果使用TomoScope的栅格层析成像，则可以如右图所示进行扫描，因此即使是较大的样品也可以在高放大倍率下进行测量。 另外，由于连接并输出了自动分割的数据，因此可以照常执行后续分析。
高分辨率--选项2 [本地CT（ROICT） 光栅层析成像可以高分辨率地测量整个样本，而ROICT是仅在必要部分局部提高分辨率的功能。 如右图所示，第一次是在低倍率下扫描整个样品，第二次是在高倍率下局部扫描。 然后，您可以获得部分高分辨率的测量结果，就像两个数据被覆盖一样。

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应用案例分析

[无损尺寸测量] 从获取的几百万个点的数据中，您只能提取所需横截面上的数据，并执行与普通坐标测量机相同的尺寸测量。 TomoScope涵盖了诸如圆度和球形度的几何公差。 可以进行无损，高精度的测量，并且可以保证尺寸测量的准确性。	[STL数据和CAD数据之间的偏差] 可以通过拟合由TomoScope和CAD获取的STL（多边形）数据来分析偏差。 在下图中，测量了STL与CAD的偏差，红色是产品肿胀的地方，紫色是刮擦的地方。 偏差也可以作为数值数据输出。
[复合产品的横截面分析] 尽管用X射线测量复合产品可能很困难，但TomoScope可以通过积累各种技术来测量噪声的影响而几乎没有影响。 下图显示了微型电动机的测量数据。 它是一种复合材料，例如铜合金，铁，磁体等，但可以轻松进行测量。	[复合产品的体积分析] 使用TomoScope，还可以从复合材料产品的测量到仅所需材料的多边形数据（STL）来测量复合材料产品的体积。

技术参数

X射线管的类型	190kV（透射），225kV（透射和反射），300kV（透射和反射）
测量范围	*大Φ= 179mm，*大L = 179mm 示例： Φ30mmx L177mm Φ179mmx L165mm
测量范围（带分割扫描）	*大Φ= 327mm，*大L = 517mm 范例： Φ60毫米x L501毫米 Φ327毫米x L480毫米
载物台容量	40kg（*大10kg，保证精度）
*大允许误差	E: (4.5+L/75) μm
位置分辨率	0.1μm
检测器	1024x1024像素，2048x2048像素，4096x4096像素等
装置尺寸	宽度：2570毫米 深度：1823毫米 高度：1976毫米 重量：约8500千克
效用	电源3相200V，空气5.5bar以上3000NL / h
环境温度	设定20°C±2K，梯度1K / h