德国菲希尔X射线荧光分析仪XDV-µ

XDV-µ型系列仪器是专为在很微小结构上进行高精度镀层厚度测量和材料分析而设计的。该系列仪器均配备用于聚焦X射线束的多毛细管透镜，光斑直径（FWHM）可达10至60µm。短时间内就可形成高强度聚焦射线。

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FISCHERSCOPE ® X-RAY XDAL X射线荧光测量仪

要检查的层越薄，检测器的选择就越重要。 FISCHERSCOPE®X-RAY XDAL®系列包含几个不同的模型。 PIN检测器可用于材料分析和涂层厚度测量。 如果需要超高精度分析，则硅漂移检测器是很好的选择。

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X-RAY 5000德国菲希尔合金分析/镀层测量仪

X-RAY 5000 系列仪器采用模块化设计，可轻松集成到生产线中。例如，当必须测量大尺寸底材（如锡板）上的镀层时，X-RAY 5000 堪称理想解决方案。根据底材和镀层材料的不同，客户可按需求选配X射线源、探测器以及基本滤片。

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